半導(dǎo)體測試設(shè)備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進(jìn)行高精度靜態(tài)參數(shù)測試（導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)）測試精度可達(dá)16位ADC；動態(tài)雙脈沖（包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg）及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等；環(huán)境老化測試（包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命等
黃頁88網(wǎng)提醒您：“半導(dǎo)體分立器件測試#晶體管直流參數(shù)測試”視頻由發(fā)布人自行提供，其真實(shí)性，合法性由發(fā)布人負(fù)責(zé)。交易匯款需謹(jǐn)慎，請注意調(diào)查核實(shí)。
