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分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試: 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類產(chǎn)品特點 1.小型化、、高速度、易操作,高靈敏度、分析 2.可同時分析40種元素 3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù) 4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率 5.記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計,雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng) 6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作 7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限全新設(shè)計的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強(qiáng)和吸收。 譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng),將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn),多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。礦石光譜分析儀市場前景廣闊。礦石是重要的資源,對于許多行業(yè)和國家的經(jīng)濟(jì)發(fā)展至關(guān)重要。光譜分析儀是一種的儀器,可以用于礦石的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)分析,以及礦石質(zhì)量的評估。鐵精粉光譜儀是一種用于分析和檢測鐵精粉樣品的儀器。它通過測量樣品與電磁輻射之間的相互作用,獲得樣品的光譜信息,從而分析樣品的組成、結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器,以下是關(guān)于它的一些介紹: 工作原理 主要基于 X 射線熒光光譜分析技術(shù)。當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時,會激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子,使其躍遷至高能級。當(dāng)這些高能級電子回落到低能級時,會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號,數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號,得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
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